Helmholtz-Förderung für Subin Lee

Wir freuen uns, spannende Neuigkeiten aus unserer Forschungsgruppe bekannt geben zu können:

Subin Lee hat erfolgreich eine Förderung durch die Helmholtz-Imaging-Projekte für sein Projekt im Bereich der Bildgebung und Datenwissenschaft erhalten. Diese gemeinsame Initiative, die von zwei Experten des KIT (IAM-MMI) und des Forschungszentrums Jülich (FZJ, IAS-9), namentlich Prof. Christoph Kirchlechner und Prof. Stefan Sandfeld, geleitet wird, zielt darauf ab, unser Verständnis der Degradationsmechanismen von Funktionsmaterialien zu verbessern. Dies soll durch die Integration fortschrittlicher elektronenmikroskopischer Bildgebungsverfahren mit Deep Learning (DL) erreicht werden.

Der Hauptschwerpunkt des Projekts liegt auf dem Verständnis des Verhaltens von Versetzungen, die eine entscheidende Rolle bei der Degradation von Funktionswerkstoffen spielen, die mechanischer Belastung ausgesetzt sind. Die herkömmliche Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) liefert zwar unschätzbare Daten, ist aber durch die Probengröße und die Möglichkeiten der In-situ-Prüfung begrenzt. Andererseits bietet die Rasterelektronenmikroskopie (SEM) eine größere Probenkammer und mehr Flexibilität für In-situ-Einrichtungen, stößt jedoch auf Herausforderungen, wenn es darum geht, Versetzungen und Verformungsmechanismen auf der Mikro-/Nanoskala effektiv zu erfassen.

Um diese Hindernisse zu überwinden, wird unser Team die 4D-STEM-in-SEM-Bildgebung in situ entwickeln und dabei die Vorteile fortschrittlicher DL-Techniken wie Merkmalserkennung und adaptives Scannen voll ausschöpfen. Bei erfolgreichen Ergebnissen sehen wir die Möglichkeit, dieses Projekt auf verschiedene Forschungsbereiche auszuweiten, einschließlich der Erforschung von Degradationsmechanismen im Bereich der Energiematerialien und darüber hinaus.