Neues in situ SEM eingetroffen

Das Institut für Angewandte Materialien - Werkstoffe und Biomechanik (IAM-WBM) hat kürzlich ein Zeiss Merlin, ein Hochleistungs-Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop, angeschafft. Dieses Elektronenmikroskop ist eine der ersten Einrichtungen, die im Rahmen der laufenden Bemühungen zum Aufbau einer hochmodernen Nano-/Mikromechanik-Prüfeinrichtung am Institut eintrafen. Hiermit sollen die mechanischen und funktionellen Eigenschaften von Materialien über Längenskalen hinweg, d.h. von Nanometern bis Millimetern, untersucht werden.

Das Merlin verfügt über die GEMINI II Säulentechnologie mit mehreren Detektoren, um hochauflösende Analysen von Materialien auf kleinen Längenskalen zu erhalten. Dies wird unsere Forschung auf dem Gebiet der in situ mechanischen Prüfung von Materialien im Submikrometerbereich unterstützen. Der große Kammerraum ermöglicht es uns, mehrere in situ-Geräte zu implementieren, einschließlich eines Nanoindenters für Experimente bei Umgebungs- wie auch bei Nicht-Umgebungstemperaturen (im Bereich zwischen 20°C und 800°C).